光學(xué)冷熱臺主要使用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試,廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精細(xì)電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)工夫和器件制造工藝成本。
下面小編要與大家分享的是光學(xué)冷熱臺各組成部件所起到的作用:
1、樣品臺(載物臺):是定位晶圓或芯片的部件設(shè)備。通常會依據(jù)晶圓的尺寸來設(shè)計大小,并配套了相應(yīng)的精細(xì)挪動定位功用。
2、光學(xué)元件:這個部件的作用使得用戶可以從視覺上縮小察看待測物,以便準(zhǔn)確地將探針對準(zhǔn)并放置在待測晶圓/芯片的測量點上。有的采用平面變焦顯微鏡,有的采用數(shù)碼相機(jī),或許兩者兼有。
3、探針(探針卡):待測芯片需求測試探針的銜接,才干與測試儀器樹立銜接。罕見的有普通DC測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針等。探針頭拔出單個探針臂并裝置在操縱器上。探針尺寸和資料取決于被探測特征的尺寸和所需的測量類型。探針尖直接接觸被測件,探針臂應(yīng)與探針尖婚配。
4、射頻探針:射頻探針的實質(zhì)為適配器,將芯片測量接口轉(zhuǎn)為同軸或波導(dǎo)端口。罕見的射頻探針有GSG型、GS型、GSSG型等。射頻探針的主要參數(shù)有高工作頻率、探針針尖距(Pitch)等。目前,同軸接口的射頻探針頻率可達(dá)110GHz(MPI目前適配安利的擴(kuò)頻模塊可到220G)波導(dǎo)接口的射頻探針頻率高達(dá)1.1THz,有一些型號的探針可以選配BiasTee。
5、校準(zhǔn):微波射頻在片測試的校準(zhǔn)次要是指S參數(shù)校準(zhǔn),可以經(jīng)過運(yùn)用校準(zhǔn)片完成校準(zhǔn)。普通的校準(zhǔn)片提供開路(Open)、短路(Short)、婚配(Match)、直通(Through)和延遲線(Line)標(biāo)準(zhǔn)件,可完成TOSM校準(zhǔn)或TRL校準(zhǔn)或SOLT或SOLR或LRM等。
6、操縱器(定位器):探針臺運(yùn)用操縱器將探針放置在被測物上,它可以很容易地定位探針并疾速固定它們。通常運(yùn)用磁鐵或真空把它們固定在適當(dāng)?shù)牡匚?。一旦固定,操縱器可以在X、Y和Z方向上精確定位探針,并且在某些狀況下提供旋轉(zhuǎn)運(yùn)動。
7、網(wǎng)絡(luò)分析儀:雖然傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)分析儀也能無效地測量有源器件,例如放大器、混頻器和轉(zhuǎn)換器,但它們不能提供以后研發(fā)和消費(fèi)工程師所盼望的精度、易用性和速度。而這些功用關(guān)于無線通信行業(yè)來說至關(guān)重要—在這些行業(yè)中,產(chǎn)品速度往往可以決議一家公司的成敗。